二手 FEI Helios NanoLab 400 #9285570 待售
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已售出
ID: 9285570
優質的: 2007
Dual Beam Focused Ion Beam (DB FIB) system
Microscope controller PC
Monitor
Switch box
Keyboard and mouse
Electrical console
EDWARDS XDS 35 Vacuum pump
NESLAB ThermoFlex 900 Chiller
EVACTRON 10 Plasma Cleaner
Does not include OmniProbe
Options:
SEM Column
Elstar FIB Column
Sidewinder
(4) GIS: Idep, IEE, PT, EE
Power supply: 190-240 VAC, 50/60 Hz, Single phase
2007 vintage.
FEI Helios NanoLab 400是一種Er/FIB雙光束設備,能夠將材料精確磨蝕到納米級。聚焦離子束(FIB)和電子束(EB)系統的金標準,FEI Helios是一種備受追捧的離子銑削系統。利用同時電子源和離子束源,像傾斜樣品環境這樣強大的特性成為標準,擴大了更復雜的3D燒蝕場景的能力;對先進的分析和材料科學項目表示歡迎。Helios NanoLab提供出色的分辨率,改進了其他控制系統,可實現更大的x-y控制,清晰明了,可實現細致、精確的超精細銑削應用。利用靈活的光路,各種檢測器可以專門切換,以優化成像性能和用戶體驗。NanoLab 400還運動原子分辨率X射線熒光(XRF)光譜,允許快速無損的微量元素分析。鑄造精度和整體磨損性能使Helios NanoLab 400成為進行精密納米加工的研究人員和科學家的理想設備。Helios公司采用超穩定電子光學技術進行STEM等定性技術,為大型和小型研究項目提供了能力。利用EB和FIB光束作為鑲嵌在同一基板上,顯微鏡可以獲得比以往任何時候都更高的分辨率,從而根據樣本量,實現高達一百萬倍的空前放大能力。Helios機器由於其低漂移和先進的光束監測和校準工具,即使在高能銑削過程中也能實現近乎瞬時的校正和分辨率響應,因此備受追捧。對於高通量樣品磨損和分析,FEI Helios NanoLab 400的雙光束柱和1納米以下的頂點分辨率提供了無與倫比的性能,使其成為納米結構、銑削、成像和分析等應用的理想資產。
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