二手 FEI Helios NanoLab 450 #293647270 待售

FEI Helios NanoLab 450是一種雙束聚焦離子束掃描電子顯微鏡設備（FIB-SEM），專為進行離子銑削而設計。FIB-SEM能夠通過高分辨率成像進行精確的納米尺度修改，對材料進行詳細的三維化學、物理和地形分析。Helios NanoLab 450設計用於半導體器件制造、故障和可靠性分析、科學成像等領域的材料科學和工程研究。它是表征薄膜、碳納米管、金屬納米線或量子點等納米材料的理想工具。它也是納米加工應用的強大工具，允許用戶生產納米尺度的高精度結構。該系統由幾個主要組成部分組成：雙束FIB-SEM、使用傳感器氣體離子進行銑削操作的氣體噴射裝置以及飛行路徑和成像柱。後者包括電子探測器、離子探測器和加熱/冷卻階段。FIB-SEM采用離子束光刻和成像技術相結合，以獲取有關目標材料結構的詳細信息。這使得能夠在納米尺度上進行精確的處理、成像和分析。氣體噴射機用於將各種氣體引入聚焦離子束中進行樣品研磨。氣體離子可用於從目標材料中剝離原子，以創建所需的結構或模式。可以針對不同的銑削速度調整氣體註入壓力。此過程提供了良好的控制和靈活性,使用戶能夠在各種材料上精確地生產高分辨率納米結構。FEI Helios NanoLab 450的成像柱提供出色的成像分辨率和對比度。它還有一個加熱/冷卻階段，使用戶能夠研究各種溫度下的材料特性，為進一步研究提供有用的數據。總體而言,Helios NanoLab 450是一款先進且用途廣泛的FIB-SEM工具,可提供精確的納米級修改和高分辨率成像功能。它是研究材料和制造納米材料結構的研究人員的寶貴工具。