二手 PHILIPS / FEI DB235 #293625629 待售
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ID: 293625629
Scanning Electron Microscope (SEM)
Picoamp meter
Real time monitor
Joystick
Optical microscope
Vacuum system
(3) Oil free IGP
Air cooled turbo and dry PVP
XYZ: 50 x 50 x 10 mm
CDEM, SED, TLD STEM
5-Axis motorized compucentric stage
Tilt: -10° to +60°
Rotation: n x 360°
Gas Injection System (GIS): (2) Injectors (Maximum of 4), chem of choice (Pt, C)
Flip stage for TEM prep and STEM observation
Milling power: Beam current, 21 nA
FEG Electron column with SCHOTTKY FEG, 350 V - 30kV
Magnum Ion column with Ga 69 / 71 LMIS, 5-30 kV
Operating system: FEI UI + FEI auto FIB and Auto TEM.
PHILIPS/FEI DB235是最先進的離子銑削設備,非常適合納米級材料的精密制備。可用於制備多種樣品，包括金屬、半導體和聚合物。該系統創建一個強大的離子束，可用於研磨或蝕刻樣品表面以納米級精度。它還具有極好的空間分辨率，可以產生極高的分辨率結構。FEI DB235具有先進的可調離子源，可用於精確控制光束參數，包括能量、劑量率和通量。離子源還具有使用壽命長的設計，可以在較長時間內高效運行。該源也易於使用，允許快速方便的樣品制備程序。該單元的設計目的是提供極低的運營成本和高效的運營。它有一個節能機器，顯著降低能耗。此外，該工具設計為便攜式輕便，占地面積小，非常適合實驗室和工業用途。PHILIPS DB 235標配計算機控制操作面板和先進的全自動樣品處理資產。它還包括幾個安全特性，以確保離子銑削模型的簡單和安全操作。其中包括集成的安全聯鎖設備、自動關機功能和故障安全機制。該系統還配備了精密的監控單元和清晰的圖形顯示。它允許用戶監控工藝並快速調整參數以達到最佳銑削參數。可以輕松設置、調整和監控過程參數,以確保機器達到所需的結果。總的來說,DB235是實現精確、高分辨率結構和曲面的理想離子銑削工具。它的長壽命設計和低能耗使得它非常適合實驗室和工業應用。該資產還具有最先進的安全功能、易於使用以及清晰的圖形顯示,便於監控。
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