二手 PHILIPS / FEI Nova NanoLab 600 #293755473 待售
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ID: 293755473
Dual beam Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Detector / Camera: SE / SED
Hard Disk Drive (HDD)
Deposition type: Pt
Pump
Chiller
PC
Manual.
PHILIPS/FEI Nova NanoLab 600是一款尖端離子銑削設備,可提供先進的納米級精密材料處理和成像能力。此通用工具將高分辨率成像與離子銑削功能結合在一起,使研究人員和工程師能夠以卓越的精度和控制能力對樣品進行表征和修改。FEI Nova NanoLab 600的核心是一種先進的場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM),它提供無與倫比的成像性能。FE-SEM配備了先進的電子光學、探測器和分析能力,使用戶能夠以亞納米分辨率可視化樣品。通過利用二次和反向散射電子成像模式,系統可以提供樣品形態、組成和晶體結構的詳細信息。除了其成像功能外,PHILIPS Nova NanoLab 600還具有高效的離子銑削單元,可用於精確的材料去除和樣品制備。離子源產生聚焦的高能離子束,可以指向樣品表面,通過濺射有選擇地去除物質。此過程允許用戶創建用於成像和分析的平整、幹凈的曲面,以及為特定應用程序塑造樣本。Nova NanoLab 600上的離子銑床提供了一系列銑削參數,可根據不同的材料和應用進行定制。用戶可以控制離子束能量、電流和入射角,以最小的樣品損傷達到最佳銑削效果。此外,該工具還包括可用於將反應性氣體引入銑削室的氣體註入資產,通過化學反應實現選擇性材料去除和表面改性。PHILIPS/FEI Nova NanoLab 600的關鍵優勢之一是其集成軟件平臺,它為儀器控制、數據采集和圖像處理提供了用戶友好的界面。該軟件允許用戶輕松瀏覽不同的成像和銑削模式,調整實驗參數,實時分析獲取的數據。高級算法和圖像處理工具使用戶能夠從圖像中提取定量信息,如粒徑分布、表面粗糙度和元素組成。FEI Nova NanoLab 600非常適合材料科學、納米技術、半導體技術和生命科學領域的廣泛應用。研究人員可以利用該模型研究多種材料,包括金屬、半導體、聚合物、陶瓷和生物樣品,精度和可重復性都很高。PHILIPS Nova NanoLab 600能夠在單個儀器中結合成像和離子銑削功能,因此成為研究復雜材料系統和執行高級樣品制備技術的寶貴工具。總之,Nova NanoLab 600是一款最先進的離子銑削設備,提供卓越的成像分辨率和精密材料處理能力。PHILIPS/FEI NovaLab 600憑借其先進的電子顯微鏡和離子銑削技術、可定制的銑削參數以及用戶友好的軟件界面,為研究人員和工程師提供了研究和操作納米級材料的強大工具。
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