二手 PHILIPS / FEI Nova NanoLab 600i #293808611 待售

PHILIPS / FEI Nova NanoLab 600i
ID: 293808611
Dual beam Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Platinum gas Omniprobe Sirion UHR E Column Magnum ion column Beam current: Up to 20 nA.
FEI Nova Nanolab 600i是一種雙光束聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)離子銑削設備,能夠進行先進的樣品制備技術。該系統結合了離子束在低電壓下的功率,以及掃描電子顯微鏡的柔韌性。這一單元可以精確控制和分析材料的物理結構和化學成分,無論是在其自然狀態下還是在受到操縱時。儀器設計將高分辨率聚焦離子束柱與一臺機器內的掃描電子顯微鏡柱結合在一起。這提供了一個獨特的能力,精確磨掉層層材料,然後用高分辨率顯微鏡分析結果。該工具包含一個樣品和加速度電位分別為0-10kV、低分辨率和高分辨率成像的光斑大小分別為1和5 nm的氙離子源。二次電子探測裝有高能中性原子(ENA)探測器和擴展範圍的反向散射探測器。離子銑削資產配備了一系列高級功能。例如,自動銑削序列允許在銑削過程中進行精細的控制和精確度,從而便於逐層樣品制備。計算機控制的階段和離子/SEM探測使精細的細節收集有關樣品,具有很高的精確度。可以控制不同程度的靈敏度,允許有針對性的樣品制備。NovaNanolab 600i是一種功能強大、用途廣泛的離子銑削模型,能夠為進一步的分析和研究準備樣品。FEI Nanolab 600i能夠從物理和化學兩個方面對樣品進行高層次的詳細分析,為納米材料和其他復雜樣品的研究提供了一個極好的選擇。它的自動化功能提供了對銑削工藝參數的精確控制,允許以高效和受控的方式銑削精致和珍貴的材料。這可以進行一系列實驗,對材料的特性和行為產生寶貴的見解。
還沒有評論