二手 PHILIPS / FEI Strata 205 #293818080 待售

PHILIPS / FEI Strata 205
ID: 293818080
Focused Ion Beam (FIB) system.
PHILIPS/FEI Strata 205是一種精密的離子銑削設備,設計用於電子顯微鏡和微分析領域的高精度樣品制備。該系統結合了先進的離子銑削技術,使用戶能夠實現納米級的精確材料去除,使其成為研究和分析需要超細表面飾面的應用的寶貴工具。FEI Strata 205的核心是它的離子源,它產生一個聚焦的離子束,可以指向樣品表面。通過用這些高能離子轟擊樣品,物質被濺走,允許受控的物質去除。該工藝非常適合將樣品稀釋至所需厚度,用於透射電子顯微鏡(TEM)分析、拋光以去除表面損傷或準備橫截面以進行詳細的微觀結構分析。飛利浦Strata 205的主要特點之一是在離子束控制方面的靈活性。用戶可以調整諸如光束能量、電流和入射角等參數,以根據特定樣品要求定制銑削工藝。這種靈活性允許精確控制物料去除率,確保樣品的制備具有很高的準確性和可重復性。Strata 205除了具有先進的離子束控制功能外,還配備了一系列樣品處理功能,以增強用戶體驗和生產力。該裝置包括一臺通用的臺式機器,在銑削過程中便於樣品加載和精確定位。自動控制和軟件接口進一步簡化了示例準備過程,使用戶能夠輕松高效地導航工具並執行復雜的銑削任務。PHILIPS/FEI Strata 205還配備了先進的成像和監控工具,以輔助樣品制備。實時成像系統提供銑削過程的視覺反饋,允許用戶根據需要監視樣品稀釋和調整參數。此外,RHEED(反射高能電子衍射)等原位監控工具對銑削過程中的樣品表面結構和質量提供了寶貴的見解。FEI Strata 205的設計考慮了用戶安全和資產可靠性。該模型具有內置的安全聯鎖裝置,以防止事故發生,並確保操作過程中的操作員保護。此外,該設備還具有堅固性和長期性能,使其成為要求苛刻的研究環境中可靠的工具。PHILIPS Strata 205離子銑削系統是電子顯微鏡和微觀分析中高精度樣品制備的一種強大而通用的工具。Strata 205具有先進的離子束控制功能、用戶友好的特性和可靠的性能,對於研究人員和分析人員而言,它是一項寶貴的資產,他們在需要超細表面飾面和納米級精確去除材料的各個領域工作。
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