二手 AMETEK INSPECT F FEG-SEM #9276757 待售

AMETEK INSPECECT F FEG-SEM是AMETEK，Inc.旗下子公司AMETEK INSPECECT的一種場發射槍掃描電子顯微鏡（FEG-SEM）。FEG-SE是一種常用於材料科學研究、納米技術、半導體器件檢測、故障分析和逆向工程的分析儀器。FEG-SEM使用戶能夠以高分辨率檢查樣品到亞納米級。INSPECECT F FEG-SEM是一種臺式儀器，既能進行近光電流的高分辨率調查，又能進行大視野的高電流成像。該設備采用集成真空系統，具有納秒高速開關閥和有源真空計，旨在確保最佳真空條件。FEG-SEM配備了用於高分辨率成像的UltraBright FE肖特基野外發射槍和用於自動成像的立柱探測器。此外，標準樣品室的設計便於使用自動裝載裝置快速交換樣品。AMETEK INSPECECT F FEG-SEM提供了多種自動化功能，如自動的真心高度調節和無偏向的樣品傳輸，用於高通量成像。該單元配備信號處理以提高圖像保真度，包括自動增益、自動對比度、平場校正、數字圖像濾波。此外，FEG-SEM包括區域重建和檢測器校準等幾種後處理輔助工具。FEG-SEM采用各種安全預防措施,包括緊急停止開關和聯鎖門開關。交互式圖形用戶界面（GUI）簡化了操作和數據采集。此外,模塊化機器允許用戶將組件（如檢測器和樣品裝載器）配置到其特定應用程序。INSPECECT F FEG-SEM旨在為用戶提供可靠、通用且價格合理的掃描電子顯微鏡，用於各種應用。技術能力的範圍、精度和準確性，使得FEG-SEM成為材料科學研究、納米技術、半導體器件檢測、故障分析和逆向工程的理想工具。