二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50-1600 #9353791 待售

ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600是一款高度先進的掩模和晶圓檢測設備，旨在滿足當今現代半導體制造的需求。它可以同時執行以下任務：面罩檢查、晶圓檢查、計量和缺陷檢查。TSK Win-Win 50-1600利用調制光場檢查器（MBI）技術進行光學掩模檢查,可提供高達10 x 10nm3的分辨率。MBI系統允許對更小的高端半導體元件進行檢查,其速度比傳統的掩模檢查平臺快4倍,同時提供超低噪聲成像,甚至可以更好地檢測最小缺陷。該單元的晶圓檢測能力包括叠加測量、圖樣放置、缺陷檢測、叠加比較和自動查看場測量。晶圓檢驗可以根據ULK標準規則，使用包括Level1、Level2和Level3在內的廣泛檢驗標準，準確快速地進行。ACCRETECH Win-Win 50-1600還支持IMEC、Black-background、Dark-Background、HP-RGB、HP-RGBZ以及LEFT和RIGHT GATE等標準流程和技術。Win-Win 50-1600還提供輪廓測量、縮放、傾斜測量、薄膜厚度測量、微點/孔測量和圖案偏斜等計量學功能，這是評估掩模特性以確保符合行業標準所必需的。機器還具有缺陷檢測功能，可以檢測到廣泛的電氣、光學和機械缺陷，包括俯仰、橋接、打開/短、分裂、接觸孔、針孔和拒絕。ACCRETECH/TSK Win-Win 50-1600易於集成到生產線中以提高吞吐量和質量。憑借其增強的組件體系結構、靈活的網絡和先進的節能功能,它提供了卓越的性能和可靠性。它還支持廣泛的鏡頭和舞臺配置，以滿足不同半導體產品的需求。總體而言，TSK Win-Win 50-1600是尋求提高產量和減少缺陷的現代半導體工廠理想的掩模和晶圓檢驗工具。