二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50-A5000 #9178343 待售
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已售出
ID: 9178343
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Wafer inspection system, 12"
Software version: 7.1.0.0
Hardware configuration (Fab):
Main system:
Main body
12" FOUP System:
(2) Brooks fixload
Handler system:
(1) Wafer handing robot
Process Chms:
(1) Inspection unit
(1) Operator console
Hardware configuration (Subfab / Auxilliary Units):
IPU (Images processing unit)
Fan box (Blower)
UPS
A5000 Configuration:
FOUP: Shin-Etsu
Process gasses:
Process gas 1: PIVAC
Process gas 2: CDA
Wafer / Cassette handling:
Wafer type: 12" Semi standard notch
FOUP Type: Shin-Etsu
(25) Cassette wafers
(2) Cassette storages
Fork variable pitch: Twin fork
Boat / Pedestal
(1) Production wafer
System controls:
Signal tower colors: G/G/R/B
General pressure display units: Pressure Mpa
Host communications:
Host communications: User host computer
Information transfer protocol: GEM-SECS
Facility electrical equipment:
2-Line power input
200 VAC, 3 Phase
CE Marked
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK Win-Win 50-A5000是一種面罩和晶圓檢測設備,旨在幫助減少產品缺陷。它能夠檢測到在7納米範圍內的模式對齊和覆蓋面罩和晶片的異常。這樣可以快速可靠地進行生產檢查。系統能夠檢測到諸如重復錯誤、接觸問題或導致屈服問題的缺陷。它還有助於檢測一納米以下遠場焦點的模式對準誤差。該單元具有集成光束傾斜監視器,因此所有測量結果都可以追溯到相同的原點。這確保了即使在測量多個晶片時也能進行一致的檢查。TSK Win-Win 50-A5000具有集成的圖像分析功能,可輕松比較測量的圖像和目標圖像,以快速檢測缺陷。它還具有步驟和重復圖像捕獲選項,可實現高速可重復測量。該機器有一個快速激光自動對焦工具，有助於保持成像精度。它還有一個先進的室內集成相機，實時捕捉圖像。ACCRETECH雙贏50-A5000允許在單個晶片上同時執行多個測量,有助於縮短生產周期時間並提高工藝效率。它擁有先進的照明資產，有助於減少測量所需的時間。該模型還與幾個工業標準軟件平臺兼容，這有助於使其更加高效。它還具有靈活性和可擴展性,可以適應任何尺寸的制造環境。總體而言,Win-Win 50-A5000面罩和晶圓檢測設備是一種極其可靠和高效的工具,有助於減少生產缺陷,同時提高制造效率。它是任何制造過程的寶貴補充。
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