二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9202658 待售

ACCRETECH/TSK Win-Win 50掩模和晶圓檢驗設備是半導體制造過程中使用的必不可少的工具。該系統旨在提供快速、準確、可靠的掩模和晶圓檢測。此外,它的模塊化設計便於定制,因此非常適合各種應用程序。TSK Win-Win 50可用於檢查模具面罩和光掩模圖樣。它利用TSK雙面光學單元從晶圓的頂部和底部進行測量，提供了比單面光學系統更高的精度。它的高放大倍率和速度也使得它非常適合顯微鏡和地形檢查。該機采用先進的圖像采集和分析工具提供動力，融合了高速圖像處理、模式識別技術和專門開發的搜索引擎。其先進的光學也保證了高吞吐量和準確性。成像資產也是完全自動化的，允許高效和可重復的檢查。ACCRETECH WIN WIN 50還能夠利用其內置的分類工具進行缺陷分類。它可以區分真實缺陷和誤報，使其成為過程優化的有效工具。此外,其直觀的軟件包允許輕松培訓和模型設置。設備還支持許多標準數據格式,從而可以輕松集成到任何現有工作流中。總體而言，ACCRETECH/TSK WIN WIN 50系統是任何半導體生產線的理想選擇。它速度快、精度高、應用範圍廣，是口罩和晶圓檢測的可靠、經濟實惠的選擇。它的模塊化設計還允許輕松定制和集成，使其成為任何生產環境中的通用靈活選擇。