二手 ACCRETECH / TSK Win-Win 50 #9281217 待售

ACCRETECH/TSK Win-Win 50是一種用於半導體生產的掩模與晶圓檢驗設備，它允許在廣闊的視野下對高分辨率的基板和掩模進行檢驗。該系統采用直接成像投影單元和經過光學修改的華夫餅型物鏡，以確保樣品的圖像清晰或「透明」，沒有失真。TSK Win-Win 50可以檢測到多種圖案特性，如細線寬、線緣、電路形狀和印刷層圖案的形狀，以及表面缺陷。此外，該機還配備了支持高吞吐量的先進高速掃描工具。它能夠快速獲取各種基材和口罩，掃描場高達24.6 x 17.9毫米。它還具有高分辨率成像資產,可檢測具有出色圖像質量的微小處理缺陷。ACCRETECH WIN WIN 50的軟件支持使用自動圖像分析算法精確評估模式特征、缺陷和缺陷位置信息。再者，該車型可以支持玻璃、矽、金屬、晶體等各種基材的手動和自動操作。WIN WIN 50是廣泛應用於半導體生產的理想選擇，包括表面檢查、液晶蒙版相關缺陷檢查、圖樣檢查、線板圖樣檢查。它還配備了直觀的用戶界面，其易於使用的操作和維護功能使得能夠進行高效的掩碼和晶圓檢查。綜上所述，ACCRETECH Win-Win 50是一款創新可靠的面膜晶圓檢測設備。其直接成像投影系統和先進的高速掃描能力為各種基材提供了卓越的圖像質量和性能。此外，其通用的軟件和直觀的用戶界面使其適合廣泛的半導體生產應用。