二手ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS)(光罩與晶圓檢測)待售

先進計量設備（Advanced Metrology Equipment，簡稱AMS）是一家領先的半導體行業的掩模和晶圓檢測系統制造商。他們的產品以精確度、速度和確保高質量檢驗結果的先進成像技術而聞名。AMS公司提供的掩模和晶片檢測裝置利用先進的光學成像技術來檢測可見光譜和紅外光譜中掩模和晶片上的缺陷。這些機器設計用於分析掩模和晶片的表面、邊緣和圖樣,從而確保生產無缺陷的半導體器件。AMS掩模和晶圓檢測工具的關鍵優勢包括高分辨率成像、實時缺陷檢測、高速掃描能力、自動缺陷分類等。這些資產還配備了先進的算法和機器學習能力，能夠準確檢測缺陷並減少誤報。AMS面罩和晶圓檢驗模型的一些流行例子包括IR3100和IR3000模型。IR3100系統提供高分辨率成像和增強的缺陷檢測能力，使其適用於先進的半導體制造工藝。另一方面,IR3000系統以高速掃描功能和實時缺陷檢測而聞名,非常適合大容量制造環境。總體而言，AMS掩模和晶圓檢驗設備為半導體制造商提供可靠、高效的解決方案，幫助他們確保產品的質量和可靠性。