二手 AEM-EVERTECH TTR-300I #9234973 待售

AEM-EVERTECH TTR-300I是一種先進的掩模和晶圓檢測設備，用於檢查微電子電路的蝕刻、光刻和制圖方面的缺陷和不規則性。該系統能夠在掃描整個芯片所需時間的一小部分內執行高精度檢查,從而使用戶能夠在生產缺陷成為成本高昂的問題之前對其進行檢測和量化。TTR-300I是基於硬件和軟件的自動檢查工具的組合,使質量控制工程師和其他人員能夠輕松地快速識別和量化關鍵生產階段的缺陷。這個單元配備了最先進的1024 x 1024像素激光檢測和聚焦機器，可以精確檢測來自掩模或晶圓表面的粒子和缺陷。此外,該工具還提供自動光學變焦和光斑放大功能,以便用戶能夠以更高的精度研究缺陷。AEM-EVERTECH TTR-300I有一個為特定用戶的規格量身定制的定制軟件包,可以針對不同的生產任務進行定制。軟件允許用戶配置和監視資產,選擇布局標準並跟蹤檢查模型的性能。該軟件還具有綜合缺陷報告的內置統計分析功能。TTR-300I設計用於在單個平臺中容納各種樣本量和配置。集成輸入階段產生高對比度圖像以實現最佳查看,並提供了廣泛的視圖字段（FOV）供用戶選擇。設備的定制面罩和晶片支架在檢查過程中提供了高水平的樣品穩定性，而計算機控制的x-y級允許樣品在非標準檢查時移動或查看。AEM-EVERTECH上的內置濾鏡TTR-300I使用戶能夠選擇一種或另一種示例類型,而自定義圖像處理工具允許用戶對圖像進行圖像校正或調整。TTR-300I是當今最好的面罩和晶圓檢驗系統之一。AEM-EVERTECH TTR-300I憑借其最先進的硬件和軟件可定制功能,可以幫助用戶及時高效地檢測和量化生產缺陷。這種檢測系統可以提供關於生產整體質量的大量知識，可以幫助很多行業節省時間、金錢和資源。