二手 AEM-EVERTECH TTR-300I #9241805 待售

AEM-EVERTECH TTR-300I是一種最先進的掩模和晶圓檢測設備。該系統旨在對掩模和晶片進行全面檢查，確保其準確性和完整性。TTR-300I利用先進的光學和成像技術來精確測量關鍵參數,並保留穿孔和非穿孔晶片以及掩模的精細細節。其集成鏡頭模塊的放大倍率從0.35倍到8.0倍不等，使其能夠捕捉到甚至最精細的細節。AEM-EVERTECH TTR-300I還配備了激光對準單元，利用激光光束查明樣品位置。這樣可以實現精確的對齊,而不會出現定位錯誤。此外,該機器還包含一個高精度視頻自動對焦（VAF）工具,可方便地可靠地捕獲詳細的樣本。TTR-300I還利用高級圖像采集模塊和景深（DOF）模塊以最大分辨率捕獲照片。資產還具有各種過濾器，旨在減少眩光和改善對比度。集成的背光照明有助於識別圖案缺陷和不規則性。它還配備了一個邊緣檢測模型，可以最精確地檢測晶片和掩模中的錯誤。設備進一步優化，以最大限度地提高工作效率，並便於精確測量雙級作業中的檢查結果。系統配有圖形用戶界面（GUI），允許用戶根據需要調整設備的配置。GUI也針對直觀操作進行了優化，並配備了廣泛的計時器功能，便於位置控制。最後,它的綜合報告管理機器允許用戶在單個界面中查看、比較和分析檢查結果。總體而言，AEM-EVERTECH TTR-300I是一種功能強大且用途廣泛的掩模和晶圓檢測工具。它的設計目的是提供對掩模和晶片的最可靠和準確的檢查，以及所有有助於快速和精確測量和分析的最新技術和功能。確保工作流程更輕松可靠,確保非常小心地處理重要項目。