二手 ALLTEQ LFI 3000 #9028592 待售

ALLTEQ LFI 3000是為提供高分辨率、實時缺陷檢測和分析而設計的下一代掩模和晶圓檢測設備。該系統針對最佳性能進行了優化,為用戶提供最大吞吐量和快速缺陷檢測。為確保最高分辨率和準確性，該單元配備了二維成像CMOS傳感器、高功率4-Laser源對象檢測機和優化光學工具。這為用戶提供了簡單、精確的晶片和掩模特征分析。LFI 3000具有高達1.5厘米的大面積掃描²並且可以覆蓋高達6厘米的區域²分辨率高達16 µm,分辨率高達128 x 512。該資產還具有高密度模式測量、魯棒模式取向計算、用於高精度缺陷分析的高切換速度以及廣泛的缺陷檢測，包括顆粒和劃痕。該模型可輕松定制和集成,允許簡單的安裝和設置。它還包括易於導航和用戶體驗的直觀軟件。直觀的GUI允許快速檢查和分析無缺陷的結果。此外，這些設備還具有若幹綜合功能，例如數據存儲、高級分析和數據輸出功能、自動後分析缺陷檢查系統以及缺陷模式跟蹤單元。這允許用戶分析缺陷，快速隔離問題區域，並為修復或減少缺陷提供可靠的解決方案。ALLTEQ LFI 3000是用於檢查和調試晶片和掩碼功能、優化缺陷檢測以及提高準確缺陷識別和解決方案效率的強大工具。這臺機器是用戶尋找高級掩碼和晶圓檢測功能的完美解決方案。