二手 AMAT AERA II #293621241 待售

AMAT AERA II是一種用於檢查半導體制造作業中使用的口罩、晶片和元件的口罩和晶片檢查設備。該系統可用於檢測缺陷，降低半導體晶片上與印刷結構相關的屈服損失成本。AERA II允許收集和分析掩模和晶片圖像的缺陷，以優化晶片產量和質量。AMAT AERA II是一種高精度取樣工具，可以對面罩和晶片上的數百種變化進行采樣和檢查。該單元包括多種傳感器和光學設備，包括數碼相機、頻閃相機、光譜傳感器、激光幹涉儀和數碼圖像處理系統。它還有一個精密的顯示機器，可以同時查看平面和角度的蒙版，從而可以更快、更準確地檢查蒙版圖案。AERA II可以檢查所有類型的像差，分辨率高達1.8微米，靈敏度降至0.2微米。它具有自上而下的角度高達85度的檢查能力，可以提供數據來識別最有可能存在缺陷的區域。該工具還具有範圍廣泛的光學器件，直徑從5mm到40mm不等，這給了用戶廣闊的視野和放大倍率。AMAT AERA II允許用戶自定義其特定應用程序的掩碼檢查設置。這包括掩碼模式判斷、缺陷分類、二進制分析和模式匹配等特征。資產還有一個自動缺陷分析模型，可以檢測幾種類型的缺陷，如過度暴露、不足暴露、暗點、條紋和退化。AERA II的關鍵特性之一是高速性能。它可以以每分鐘幾百個晶片的速度檢查晶片和掩模。這樣可以快速準確地生成檢驗結果,從而確保半導體制造商的高產率和成本效益。AMAT AERA II是半導體行業的寶貴工具。其精密的傳感器和光學器件使其能夠快速準確地識別缺陷,並且其可自定義的設置允許用戶根據其特定應用定制掩碼檢查過程。其高速性能確保了生產成本的最小化和產量的提高。簡而言之，AERA II是任何半導體制造商必不可少的工具。