二手 AMAT / APPLIED MATERIALS 0020-1412 #9361620 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS 0020-1412是一種先進的掩模和晶圓檢測設備，設計用於快速準確地識別半導體光掩模和晶圓上的缺陷。該系統包含高分辨率光學成像和先進的自動圖像分析軟件，用於檢測和表征缺陷。它能夠每小時檢查多達30個晶片，能夠檢測到小至1微米的缺陷。該單元由光源、光檢頭、掩模或晶片級以及圖像分析軟件四部分組成。光源發出可在不同檢查條件下調節的漫射照明。光學頭由一臺長工作距離顯微鏡、一臺高解析度照相機和一臺透鏡機組成，可以提供非常寬的視野和高放大能力。面罩或晶片級采用精密的電動XY掃描工具設計，可以對樣品進行非常精確、高分辨率的掃描。最後，圖像分析軟件由缺陷檢測和表征算法組成，這些算法被編程為檢測和分類缺陷。該軟件能夠分析圖像並提供其發現的任何缺陷的詳細報告。它還可以執行量化分析、缺陷位置映射、雙索引和計算特征大小等多種分析任務。該資產還帶有圖形用戶界面（GUI）,旨在為用戶提供對模型參數和設置的輕松控制。GUI還允許用戶查看設備獲取的數據和圖像。總體而言，AMAT 0020-1412是一款功能強大且先進的掩碼晶片檢測系統，結合了高分辨率成像、精確的電動掃描和先進的軟件算法，快速準確地檢測半導體照片和晶片上的缺陷。該設備易於使用,有助於提高產量和降低成本。