二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Complus 2T #9266645 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS Complus 2T Mask and Wafer Inspection Equipment是半導體制造商用於檢查Mask和Wafer的先進檢測系統。該單元使用Brightfield和Darkfield光學的組合來檢測對齊和曝光參數中的缺陷。AMAT Complus 2T具有較高的速度能力,每小時可掃描4000個晶圓,並提供高達500倍的高分辨率,使用戶能夠提供快速、準確的缺陷和圖像分析。該機器使用高分辨率圖像傳感器和實時自動對焦系統來捕獲1微米及更小尺寸的圖像,幫助用戶快速識別產品中的缺陷和尺寸差異。該軟件提供了多種功能,如圖像縫合和縮放,使用戶能夠更詳細地準確分析缺陷。APPLIED MATERIALS Complus 2T還包括照明強度控制，允許用戶調整光的強度以達到最佳圖像清晰度。Complus 2T可以利用其先進的邊緣檢測算法來檢測由對齊和曝光錯誤引起的缺陷。這些算法可以檢測各種局部和全局缺陷，幫助用戶識別不容易看到的缺陷。該工具可與蒙版和晶片產品一起使用,並且可以同時運行晶片級和單模檢查,幫助用戶在生產成品之前發現隱藏的缺陷。AMAT/APPLIED MATERIALS Complus 2T還提供了一系列數據分析選項。用戶可以輕松地將圖像和數據導出到各種外部軟件包中以進行進一步分析,從而幫助加快整個過程。該資產還能夠對數據進行分類、篩選和分析，幫助用戶快速查明特定的缺陷來源並允許他們設置糾正措施。AMAT Complus 2T是一種用於檢查口罩和晶片的先進工具，可用於檢測納米尺度的各種缺陷。APPLIED MATERIALS Complus 2T憑借其先進的功能、高速處理和多用途的數據分析功能,已成為先進電子元件制造商的重要工具。