二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Complus 3T #9280959 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS Complus 3T是一種先進的掩模和晶圓檢測設備，利用光學檢測技術來識別可能的設備缺陷。該系統能夠檢測包括光學標線、掩碼和晶片在內的廣泛的掩模圖樣，並且能夠檢測到內存元素缺失、雙面圖樣缺陷、錯位或與方向相關的缺陷以及非標準圖樣缺陷等缺陷。AMAT Complus 3T單元基於一種專門的振幅調制技術，在一個單獨的物體與其背景之間產生對稱性。振幅調制技術高度敏感，使機器能夠準確識別重復對象及其對應缺陷之間的微小差異。此工具利用聚焦的離子束繪制一條窄線軌跡,資產可以與該軌跡比較對象的任何差異。先進的光學檢測模型配備了先進的算法來識別缺陷。這些算法包括圖像捕獲和處理、圖像比較和缺陷分類。圖像捕獲和處理算法使用CCD技術來捕獲和存儲對象的中等分辨率圖像。比較算法采用數字處理來比較這些圖像，並對對象的準確性進行定量評估。最後,缺陷分類算法將這些圖像與一組先前定義的參數（如規範和公差）交叉引用,以確定某個對象是否有缺陷。除了先進的光學檢測技術外，APPLIED MATERIALS Complus 3T設備還配備了先進的硬件部件。這類元件包括掃描電子顯微鏡級、晶圓級，以及系統運行的各種關鍵元件。掃描電子顯微鏡級配備了捕獲晶片高分辨率圖像的能力，使用戶可以同時檢查掩模和晶片的多個區域。晶片級啟用晶片的移動，這樣就可以視需要檢查對象的任何片段，而不必移動整個對象。除了先進的設備外,Complus 3T設備還配備了軟件控制以及用戶友好的翻譯和傳輸界面。這些接口允許以任何語言進行圖像捕獲和比較，從而使機器能夠為多樣化的客戶服務。此外,該軟件還具有用戶友好的3-D圖形界面,能夠快速識別缺陷和精確測量。AMAT/APPLIED MATERIALS Complus 3T工具效率高、性價比高，是口罩和晶圓檢驗的理想選擇。AMAT Complus 3T擁有先進的光學檢查技術、專業算法、先進的硬件組件、軟件程序以及用戶友好的翻譯和傳輸接口,是確保掩模和晶圓組件質量保證和準確分析的理想工具。