二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Complus MP #293769355 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS Complus MP
ID: 293769355
Darkfield inspection system.
AMAT Complus Mask&Wafer Inspection Equipment是為半導體器件制造而設計的高性能的mask and wafer inspection system。該設備采用了多種光學和非光學技術,以全面了解設備的缺陷和特點,從而提高了過程控制和設備產量。該機設有集成的掩模和晶片檢查模塊,其中包括光學顯微鏡、自動晶片分析、CAD-Compare和X射線成像。光學顯微鏡是一種高功率、高分辨率的成像工具,可以同時檢查掩模和晶片,允許深入查看所有設備特征。自動晶片分析用於檢測和量化每個晶片上的缺陷,配準精度高達0.25微米。CAD-比較用於比較半導體器件的設計和測量特征地形,使器件設計人員能夠驗證其設計的正確制造。最後,X射線成像模塊允許識別每個掩模和晶圓中的物理和電氣缺陷。資產利用CCD成像模型獲取掩碼和晶片的圖像以及每次掃描時以數字方式生成的圖像。它具有XY和XYZ方向的激光自動對準能力,使操作員能夠精確對準晶片和掩模部分進行檢查。APPLICED MATERIALS Complus Mask&Wafer Inspection Equipment能夠以每秒30,000像素的速度收集數據,光場孔徑在0.6-20 mm之間。此外,用戶還可以在不同的調色板選項之間進行選擇,以便以最佳方式查看檢查數據。AMAT/APPLIED MATERIALS Complus Mask&Wafer Inspection System配備了全面的軟件工具和功能集合。其中包括精湛的圖像處理軟件、實時圖像分析以及用於識別和評估過程相關產量損失的功能強大的過程分析工具。此外,該設備還具有自動模式識別功能,使操作員能夠高速執行詳細檢查。除了這些功能外,機器還具有一套高級報告和可視化功能。AMAT Complus Mask&Wafer Inspection Tool對於半導體器件制造商來說至關重要,因為它使他們能夠識別和解決制造過程中的缺陷。通過深入了解設備的物理和電氣方面,以及優化的過程控制和產量,資產可確保半導體設備的制造符合規格。
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