二手 AMAT / APPLIED MATERIALS G3 #9399902 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS G3
ID: 9399902
優質的: 2011
Defect review system 2011 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS G3掩模和晶圓檢驗設備是一個創新的集成光學成像系統。它旨在提供半導體器件制造過程中的掩模和晶片的深度成像。AMAT G3單元的核心是其AMAT Micro-Electronics Solutions(AMMES)光學平臺,它使用了一套創新的透鏡和濾鏡來提供晶圓的優越成像。這是通過將相移光學元件陣列與幹涉濾波器和場相關衰減器結合使用來實現的。該機器還利用數字圖像捕獲技術,使其能夠以每秒5,000幀的速度獲取面罩和晶圓的高度詳細的數字圖像。APPLICED MATERIALS G3 Mask&Wafer Inspection Tool能夠對兩個角度(90°和180°)進行單圖像和全場檢查,並且可以捕獲多達128個不同的測光參數。它具有自動缺陷分類功能,可分離晶圓上的汙染、缺陷、衍射圖樣和非均勻性。此外,該資產還提供了功能強大的自動校準工具,允許用戶自動調整焦點和照明設置以優化圖像質量。G3模型采用了先進的掩碼模式匹配算法,消除了手動匹配的需要.此功能允許它識別、檢測和隔離各種缺陷,包括裂紋、針孔、變形晶體管和相關問題。它還可以檢測晶圓中的表面異常如汙跡、汙染和針孔。它與各種測試模式兼容,允許以速度和準確性進行臨界測量。用戶友好的圖形用戶界面(GUI)允許方便地設置和操作AMAT/APPLIED MATERIALS G3設備。觸摸屏操作允許用戶快速對系統進行更改,而高級成像和分析選項則為用戶提供了全面的數據視圖。該單元還提供報警通知和缺陷趨勢跟蹤,有助於減少線路停機時間,提高產量,提高效率。AMAT G3 Mask&Wafer Inspection Machine是確保半導體器件制造過程中高產量、高吞吐量的優質產品的可靠高效解決方案。它易於操作,為用戶提供了主動監控和識別任何缺陷所需的工具。
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