二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Opal 9300 #9086218 待售

ID: 9086218
晶圓大小: 8"
優質的: 2000
Defect review system, 8" 2000 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS Opal 9300是一種面罩和晶圓檢測設備,設計用於提供全面的面罩和晶圓缺陷檢測能力。該系統旨在滿足先進半導體器件生產和下一代光刻工藝的需求。該單元可以識別和分類晶片上的微觀和宏觀兼容缺陷。該機器還能夠進行圖像處理和模式識別,以識別廣泛的晶圓缺陷。該工具采用了先進的4K CCD攝像頭以及強大的對焦功能,能夠檢測到甚至超小的缺陷。該資產具有高數值孔徑和4X雙目光學模型,以確保高度精確的圖像捕獲和分析。這與高速圖像處理設備相結合,使系統能夠快速準確地檢查晶圓或掩模表面。該單元還配備了彩色濾光片,使用戶能夠選擇一定波長進行檢查。該機器還具有精確的晶片對準和圖像解碼功能,以及一系列缺陷識別和分類算法和工具,以確保對缺陷的準確檢測和報告。該工具還具有先進的工具,如背面成像和暗場成像,以識別晶圓最暗區域的缺陷。該資產還具有多路復用和雙光束掃描功能,可用於更精確的檢查和分析。該模型還旨在減少手動檢查的需要,並具有高級自動化功能,使其能夠集成到現有的大批量制造過程中。該設備還配備了一系列校準和成像工具,以及直觀的用戶界面,使用戶更容易創建和維護高精度圖像。該系統還提供一系列數據記錄和報告功能,包括顏色編碼的缺陷映射,可幫助管理層快速識別和解決缺陷趨勢。總體而言,AMAT Opal 9300是一個功能強大且高度先進的掩模和晶圓檢測單元,旨在滿足現代半導體器件生產和下一代光刻工藝的需求。該機器能夠捕獲、處理和分析廣泛的掩模和晶圓缺陷,使用精確的成像技術和算法來準確識別和分類缺陷。此外,該工具旨在減少手動檢查的需求,並集成到現有的大批量生產過程中,使其成為當今先進半導體器件制造需求的理想選擇。
還沒有評論