二手 AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF-736 XS DUO #118995 待售

ID: 118995
晶圓大小: 8"
優質的: 2001
Patterned wafer inspection system, 8" Manual load port Manuals 2001 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF-736 XS DUO是下一代最先進的掩模和晶圓檢測設備。這個先進的系統以其快速、高度精確的檢測能力,將掩模或晶片檢測提升到一個新的水平。AMAT WF-736 XS DUO旨在滿足半導體行業的嚴格需求。該單元針對缺陷的檢測和分析進行了優化,從而能夠對難以檢測的問題進行快速而精確的表征。ORBOT WF-736 XS DUO具有結合了亮場(BF)和暗場(DF)功能的先進相機,集成了高分辨率數字圖像捕獲和近紅外成像。這種結合結合了增強的光學成像和自動化數據處理功能,可實現廣泛的檢查功能。這包括檢測各種缺陷,包括但不限於:表面汙染物、分層、地下顆粒汙染物和其他類型的工藝重建缺陷。APPLIED MATERIALS WF-736 XS DUO還具有自動運動工具,使資產能夠快速掃描掩碼或晶圓並捕獲更多圖像。此模型可以通過僅檢查單個圖像來更輕松地識別可能難以檢測到的缺陷。該設備還配備了各種照明技術和表面分析技術,有助於提供各種精確的缺陷特征。AMAT WF-736 XS DUO配備了高級圖像分析軟件包,旨在提供功能強大但易於使用的分析功能。該系統在靈活、操作簡單的用戶友好環境中運行,可快速方便地評估掩模和晶圓圖像。軟件還提供內置的統計功能,方便快速評估被檢查圖像的質量。總體而言,AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF-736 XS DUO是一個先進的單元,提供快速準確的檢測能力。這臺機器具有高度先進的攝像頭工具,它結合了BF和DF成像功能、自動運動、高分辨率圖像捕獲和近紅外成像。AMAT WF-736 XS DUO還配備了強大的圖像分析軟件包,可以對獲得的圖像進行簡單靈活的分析。該資產是企業尋求先進、強大的面具和晶圓檢驗模式的理想選擇。
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