二手 AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF-736 XS DUO #293617607 待售

ID: 293617607
優質的: 2001
Patterned wafer inspection system 2001 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF-736 XS DUO是一種面罩和晶圓檢測設備,旨在提供卓越的性能和直觀的操作。該系統提供了一系列高級功能,包括自動晶片對齊、高分辨率圖像捕獲和分析、自動缺陷識別和分類,以及在單個視圖域內檢查整個晶片的能力。AMAT WF-736 XS DUO配備了一個新的雙束圖像采集模塊,利用光學和電子束成像模式為各種基材類型和特征提供優化的數據捕獲。該單元與高分辨率、全場數字線掃描儀集成在一起,可產生高達120Mpixel的明場和暗場圖像。此外,機器還提供各種自動化功能,如通過其3D配置文件對缺陷進行智能識別、準確的特征檢測以及自動缺陷分類。該工具采用了最新的成像和圖像處理技術。它包含了一個集成的圖像處理和分析資產,提供先進的圖像過濾算法和統計分析來分類,測量和分類缺陷。該模型還配備了數字光場成像設備,該設備提供高對比度圖像,可用於檢測復雜結構和布局上的小缺陷。ORBOT WF-736 XS DUO還具有提供增強和直觀操作的高級控制軟件。這控制了工具在晶片上的應用,並允許根據用戶的需要輕松定制成像參數。該系統還配備了先進的特征識別單元,可自動檢測和測量晶圓表面上的模具模式參數。WF-736 XS DUO為要求苛刻的半導體工業中的掩模和晶圓檢測提供了高效可靠的解決方案。該機結合強大的成像技術和直觀的操作,能夠從0.1um-2um檢測到各種關鍵缺陷。它大大減少了與手動檢查相關的時間和成本,並在關鍵生產環境中實現了高效的流程流程。
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