二手 AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF-736 XS DUO #9412198 待售

ID: 9412198
優質的: 2000
Patterned wafer inspection system 2000 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF-736 XS DUO是一種先進的掩模和晶圓檢測設備。它包括兩個晶圓檢測站,一個先進的計算機視覺系統和一個強大的幹涉透鏡單元。該機配備了先進的光學剖面儀、晶圓檢測站、SEMI自動調節、高速自動對焦工具以及可定制的用戶界面。兩個晶片檢測站中的第一個具有8英寸光學掃描場,用於捕獲整個被檢測晶片表面。AMAT WF-736 XS DUO包括一個高解析度的線掃描相機,使資產能夠以更高的精度看待多個表面特征。線路掃描相機與隨附的光學剖面儀配合工作,獲取晶圓上缺陷的高質量3D圖像。第二晶片檢測站配備了高分辨率CCD相機,以極大的精度和細節捕捉大型晶片圖像。CCD相機用於捕獲高達0.2 μ m的表面缺陷。此模型還包括用於自動設置和操作的SEMI自動調整功能。除了兩個晶圓檢測站外,ORBOT WF-736 XS DUO還配備了先進的計算機視覺設備,具有一系列可定制的功能。計算機化視覺系統提供模式選擇、輪廓分析和旋轉分析功能。如果任何晶片缺陷超過預設參數,也可以將設備配置為生成警報。此外,視覺機器支持不同的視場和放大級別,使整個晶圓清晰的可視化。WF-736 XS DUO配備了強大的幹涉透鏡工具,提供高精度的成像,具有出色的分辨率和對比度。透鏡將激光點聚焦在晶片表面,高速獲取缺陷的3D圖像。資產的自動對焦模型始終保持激光聚焦點居中,確保晶片掃描盡可能準確高效。此外,設備還包括一個可定制的用戶界面,允許操作員定制功能、量身定制系統設置以及程序自動化例程,以進行高效檢查。用戶界面包括被檢查晶圓表面的實時導航,以及晶圓測試圖像庫。應用材料WF-736 XS DUO是最先進的面罩和晶圓檢測系統之一.它提供高精度成像和自動化操作,並具有一系列可定制的功能,使其成為生產環境的理想解決方案。
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