二手 AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 736 XS #293620183 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 736 XS
ID: 293620183
Patterned wafer inspection system.
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 736 XS是為最苛刻的半導體應用而設計的最先進的掩模和晶圓檢測設備。該系統具有0.36微米分辨率的光學單元和高速晶圓檢測端子,以滿足半導體制造的多樣性。AMAT WF 736 XS利用先進的軸控制技術,可以同時掃描多達21個對象,同時保持一系列分辨率級別。此外,根據應用程序的不同,檢驗機的最大圖像尺寸為8x8 mm或4x4 mm。可通過實時預覽顯示選項根據客戶的要求進一步定制光學工具。ORBOT WF 736XS還具有一個雙軸級,可供用戶適應特定應用的Die 2 Die、Die 2 Wafer、Wafer 2 Wafer和Camera 2 Wafer掃描選項。此外,與傳統技術相比,OptiFlex智能掃描軟件允許對所有相關缺陷進行高度精確的分析,從而提高了檢查結果的可靠性。AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 736XS已經內置了容納多個輸入/輸出國家的功能,其流程界面旨在在有價值的客戶工具、軟件和流程之間創建無縫操作。它還具有一個直觀的用戶界面,可以快速、輕松地訪問檢查參數以進行定制操作,以滿足客戶的需求。此外,APPLIED MATERIALS WF 736 XS配備了高速、自學的過程控制資產,使用反饋控制來控制分辨率和掃描速度。這允許用戶快速優化參數並提高檢測能力。此外,該模型的性能可以通過可選的高速晶圓自動加載器和擴展的動態範圍來進一步提高。AMAT WF 736XS通過結合高質量的光學、高級圖像處理和實時性能,提供業界領先的功能。它速度快、分辨率高,確保了可靠的缺陷檢測,並且易於集成到現有客戶的質量控制系統中,使其成為質量保證和產品驗證的理想選擇。
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