二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX 300 #293628469 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX 300是一種用於半導體應用的掩模和晶圓檢測設備。它是一種可靠、高速的系統，設計用於快速、準確地檢查為高級工藝節點量身定制的半導體掩模和晶片。該設備以前所未有的精度和速度對光掩碼、晶片和微器件進行全場在線檢測。該檢測機由於其強大的光學性能和超強的照明能力，實現了高吞吐量。該單元設計用於控制晶片或掩模上不同深度的光束大小、頻率和形狀,以便收集和評估數據以確保產品質量。CX 300可以檢測到點缺陷、線緣粗糙度、殘留粒子、線寬誤差等多種臨界缺陷，提供準確的結果。CX 300能夠檢測整個晶片中最小和最具挑戰性的缺陷。它可以檢查晶片的尺寸不超過32 x 32厘米，厚度不超過1mm。該工具還支持矽、藍寶石、石英、玻璃等多種基材。CX 300支持數種先進的光學，包括數字全息顯微鏡、可變深度成像、晶片到晶片計量學和數字成像，以提供對缺陷的詳細分析。此外,它還配備了大量的照明組件和先進的照明條件,包括可選的主照明資產,可確保更準確的成像結果。CX 300附帶了一個直觀的軟件平臺，使用戶可以輕松導航、控制和分析單位收集的數據，無需培訓。它擁有先進的自動化缺陷審查軟件，可以快速檢測、測量和分類缺陷。該軟件還可用於生成類似CAD的對象和分析CD更改的周圍結構像差（SSA）。總體而言，AMAT SemVision CX 300是一種先進的掩模和晶圓檢測模型，旨在提供快速和高精度的結果。它可以幫助檢查質量最高、復雜的設備及其軟件功能，從而提供方便用戶和直觀的操作，使設備成為半導體制造的可靠工具。