二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 Plus #9374700 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 Plus是一種掩模和晶片檢查設備,其設計目的是確保在檢查和檢測晶片和掩模上的缺陷時達到最高的精度-甚至只有1微米的缺陷。該系統使用先進的色彩傳輸技術來精確檢查蒙版和晶片,並可以將缺陷圖像傳輸給大多數彩色支持的打印機。該單元支持多個工具，如Tandem、darkfield和brightfield，以準確檢測晶圓和掩碼上的各種缺陷。它還支持多模具檢測的縫合，以滿足半導體加工日益增長的模模需求。其先進的後處理能力也提高了故障檢測精度。該機包括定制設計的光學器件，如多區域自動對焦和自動中心功能，提供出色的分辨率數據。它還包括定制設計的圖像放大系統,它可以將放大倍率提高到250X,每分鐘最多可顯示8張圖像（分位為16位）。它使用專門的過濾和圖像增強技術來產生具有改進的缺陷分辨率的高對比度圖像。AMAT SemVision G2 Plus包括強大的圖像處理功能,可檢測晶圓和掩碼上的各種缺陷類型。它的全自動掩碼檢查模式實時處理圖像，直觀的用戶界面使其易於使用。此外,該工具還為各種掩碼類型提供自定義分析,並提供高級缺陷識別模塊,以實現快速準確的缺陷診斷。此外,它還具有用於缺陷計數和分析的多層成像資產。它最多可以檢測到4級缺陷，其缺陷處理能力可以檢測到開放式缺陷、短褲、橋接、焊球、應力裂紋以及其他類型的缺陷。其集成的自動化控制模式為手動和自動化操作提供支持。它還包括用於工程和質量控制的高級軟件套件。此外,設備還支持多種文件格式,例如標準TIFF和JPEG,以確保與其他行業標準系統的兼容性。最後,APPLIED MATERIALS SemVision G2 Plus包括高級系統級可靠性功能,例如冗余電源和組件,以確保可靠的運行。它還包括一個客戶支持包,為客戶提供在線和電話支持。