二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9167173 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2
ID: 9167173
晶圓大小: 12"
優質的: 2003
Defect review system, 12" Currently warehoused 2003 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是專門為半導體工業設計的掩模和晶片檢測設備,能夠在制造前快速準確地驗證所有關鍵芯片特征。其先進的光學和成像技術使集成電路設計的吞吐量和產量得以提高,並減少了缺陷和故障。AMAT SemVision G2使用象限檢測器技術進行成像保證和更高的模式識別性能。該系統的專用光學陣列支持四向掃描掩模圖樣,允許從多個角度捕獲所有圖樣。其向量單元增加了單個特征的高分辨率成像,提供清晰詳細的字符識別。此外,高速掃描還能夠快速檢測和消除生產缺陷。該機配備了雙室10000級潔凈室,針對有效的空氣淋浴和室內空氣過濾進行了優化。空氣淋浴工具允許超純空氣進入裝置,降低了顆粒汙染的風險。它還利用位置觸發的空氣爆炸在處理過程中疏散顆粒,從而促進高吞吐量。此外,該資產還設計了雙窗口設計,以實現最大的透明度水平,這是動態成像響應的理想之選。APPLICED MATERIALS SemVision G2集成了一款高靈敏度相機,可提供快速的數據處理速度和高清(HD)成像,以及其高性能電荷耦合器件(CCD)圖像傳感器模型。該設備配備了軟件,用於高效的信息管理和與單級或多級處理的兼容性。此外,其高級操作系統還支持完整模式和缺陷捕獲,並具有增強的可追蹤性和跟蹤轉換功能。最後,對SemVisionG2掩模晶片檢測儀進行了優化,為集成電路制造提供準確可靠的成像和有效的缺陷和故障檢測。它集成了先進的光學和成像技術,能夠實現多特征角的高分辨率圖像、位置觸發的空氣爆炸、高靈敏度相機、CCD圖像傳感器、軟件兼容性和可追蹤性功能。
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