二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9190574 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2蒙版和晶片檢測設備是高精度光刻檢測行業的領先者,提供卓越的圖像質量、精度和速度。該系統提供了集成的圖像處理和檢查解決方案,該解決方案針對最先進的光刻節點（包括6 nm及以下）進行了優化。使用最先進的成像設備,此類檢查使客戶能夠保證產品開發方面的最高質量。通過對每個特征大小和節點進行專用的成像校準,這臺機器在低至6nm的可視模具檢查中提供了最高的精度。該工具配備明亮、高分辨率的12英寸透射光成像儀和自動對焦功能,可提供清晰清晰的圖像,並在整個圖像領域提供可靠的對比度。除了高精度檢測外，AMAT SemVision G2還通過其獲得專利的自動缺陷檢測資產提供了對掩模和晶片缺陷的無損審查。該缺陷檢測模型用於檢測線端橋接、坑橋、線斷裂、光學接近缺陷（OPD）檢測、顆粒和汙染等缺陷。該設備還提供了一個集成掃描系統，從CD測量探測器和FOUP等各種設備收集數據。此單元也可自訂進行CD狹縫或二進制狹縫測量，以及像差測量。此外,該機器允許客戶在開發過程中節省寶貴的時間,從而實現快速、輕松和準確的檢查和測量。在靈活性和工作效率方面,APPLIED MATERIALS SemVision G2工具提供了廣泛的創新功能,以滿足客戶的需求。該資產提供了即時重新配置晶圓尺寸的能力，並包括一個新穎的負載端口體系結構。它還配備了用戶友好的GUI界面、自動工具選擇和直觀、易於使用的界面,具有簡單的導航功能,可用於復雜的操作。總體而言,SemVision G2模型是用於掩模和晶片檢查的領先解決方案,它提供了先進的成像和校準,以實現高精度精度。它的集成成像和掃描提供了準確的結果,減少了時間和資金投入,使客戶在其過程中更高效、更高效。它具有最高質量的圖像和最快的缺陷檢測,為最先進的光刻節點提供了最佳的光刻性能。