二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9215407 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一種自動化的面罩和晶圓檢驗設備，設計時采用了檢驗技術的最新進展。它以高分辨率拍攝微芯片的三維圖像，能夠快速識別潛在缺陷和效率低下的區域。檢查過程從晶片在電子控制平臺上快速旋轉開始。紅外照相機隨後拍攝了超過6000幀的旋轉晶片。然後通過系統強大的AI算法對這些數據進行分析和解釋,從而可以對其組件和潛在弱點進行高度準確的渲染。然後,AI軟件可以輕松找到結構中的錯誤和不一致之處,然後在必要時對每一個錯誤和不一致之處進行檢查和修復。根據客戶的要求,可以調整設備的參數以檢查不同的分辨率和深度。G2還支持多種不同的晶圓尺寸，使其適合任何行業或技術。G2的現代設計確保了高水平的過程效率,包括完全自動化,使用戶能夠靈活地自動執行所有執行的檢查。集成軟件能夠高效處理多個晶片，可以對每個晶片進行幾次不同的檢查。它的圖像導航機還允許用戶快速定位和查看晶圓中潛在缺陷的圖像，改善了整個過程。通過利用其掩蔽、對齊和缺陷特性,AMAT SemVision G2可幫助最大限度地減少缺陷並大大減輕生產團隊的壓力。由於集成了最新的人工智能技術和自動化功能,APPLIED MATERIALS SemVision G2是高效檢查掩模和晶片以及快速識別缺陷和低效率的完美工具。它具有高度的準確性和靈活性,並且可以執行多次檢查,以確保最終產品符合客戶的期望和規格。該工具已證明是不斷發展的半導體行業的寶貴資產，是市場上最可靠的檢驗解決方案之一。