二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9227745 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一款功能強大的掩模和晶圓檢測設備，旨在提供高度精確和快速的缺陷檢測和表征。該系統配備了最新的檢測技術，為生產級半導體元件檢測提供了快速高效的缺陷檢測和高精度定位。AMAT SemVision G2采用了一種經過像差校正的4.5kV掃描電子顯微鏡（SEM），該顯微鏡集成了最先進的圖像采集和成像處理技術。它旨在提供卓越的成像性能和對復雜缺陷的分析。該單元利用四通道信號檢測、高靈敏度傾斜檢測器、振幅對比度技術等先進檢測器，提供卓越的成像保真度、可重復性和可靠性。APPLIED MATERIALS SemVision G2還具有高吞吐量晶片審閱模式，允許用戶在生產卷中高效篩選和分類晶片。除了成像功能外,SemVision G2還配備了3D自動對齊機,能夠快速自動對齊樣品、圖像旋轉和傾斜檢測。它還允許用戶以自上而下和側視方向執行3D X射線分析。利用集成的圖像分析應用,可以輕松地對缺陷進行精確的大小和分類。此外,該工具設計為具有多用戶訪問權限,因此多個用戶可以同時使用該資產,從而提高了生產率並縮短了周期時間。AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2以合理的價格提供高級成像和分析功能的組合,使其成為半導體元件檢查的理想工具。集成的硬件和軟件技術為快速準確的缺陷分析提供了卓越的圖像分辨率和對比度。該模型采用3D自動對準、多用戶訪問、靈活的圖像處理，旨在滿足半導體行業苛刻的檢測要求。