二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9269326 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一種高精度的掩模和晶圓檢測設備，適用於與半導體制造相關的多種應用。此專用系統允許用戶在設備和系統級別上以視覺方式檢查蒙版和晶片上的圖案層。它旨在提供卓越的精確度和可重復性,能夠檢測缺陷到2微米的分辨率。該裝置采用明場組合的主教/透視反射顯微鏡，允許在斜光和直光下檢查樣品。這臺機器還配備了快速LED光源以優化觀看效果,並配備了先進的20 x/120 x光學工具,能夠以高達1280 x 1024的分辨率捕獲高分辨率圖像。此外,AMAT SemVision G2還配備了1600萬像素的CMOS攝像頭和圖像捕獲卡,用於直接圖像捕獲和存儲。APPLIED MATERIALS SemVision G2還包括一套全面的自動化檢查和分析工具，允許用戶快速識別缺陷，確定精確位置，並進行詳細分析。該資產還支持集成的線掃描,從而實現精確的邊和線缺陷分析。該模型具有內置自動對焦算法的實時自動對焦能力，無需用戶調整即可獲得最佳圖像。SemVision G2還提供了廣泛的測量，包括邊緣位置和山峰分析，使其成為各種生產工藝的理想選擇。此外,設備還提供多種I/O功能和多種聯網選項,允許用戶遠程控制設備或將其與現有系統集成。總體而言，AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一種可靠且易於使用的面罩和晶圓檢測應用系統。該設備提供出色的圖像和數據質量,以及一系列自動化工具和測量功能。它允許快速、準確和可重復的檢查,允許用戶快速識別和分析其口罩和晶片上的缺陷和特征。