二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9382817 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2
ID: 9382817
Defect review system.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2是一種用於分析各種半導體晶片和掩模的掩模和晶片檢測設備。該設備提供多種功能,包括高分辨率成像、自動測量和質量保證。該系統旨在分析和檢查掩模和晶片的缺陷和其他特性,如形狀和尺寸變化。該設備能夠以0.25 µm分辨率的最高分辨率捕獲口罩和晶片的圖像。這為用戶提供了可用於識別和評估缺陷和其他變化的詳細圖像。AMAT SemVision G2還具有自動測量功能,可幫助加快檢查過程。其中包括一系列用於快速測量結構和缺陷尺寸以及其他特征的模式比較和分析工具。這消除了手動測量的需要,使機器效率高,成本效益高。此外,該工具還提供集成的內置質量保證工具,有助於確保所有部件都符合客戶標準。這些工具旨在幫助用戶驗證所有功能和結構是否滿足所需的要求,從而使客戶訂單的執行變得更加輕松快捷。APPLIED MATERIALS SemVision G2還為用戶提供了一個直觀的用戶界面,允許快速、輕松地訪問功能和特性。用戶界面還旨在提供關於每次檢查操作狀態的清晰反饋,以及測量和測試的實時結果。總體而言,SemVision G2是半導體行業強大、可靠的掩模和晶圓檢測資產。該模型為用戶提供高分辨率成像、自動化測量和質量保證工具,使其成為確保生產優質產品的高效且經濟高效的工具。
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