二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB #9264196 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB（聚焦離子束）是一種綜合性的掩模和晶圓檢測設備。該系統采用專有的光學和掃描電子顯微鏡（SEM）技術，提供前沿晶片、掩模等平面樣品表面計量檢測能力。SemVision G3的亮點包括：卓越的成像功能和缺陷本地化。先進的SEM成像可實現詳細的成像和缺陷定位,有助於確保準確評估各種結構中的關鍵結構和缺陷。綜合缺陷分類.該裝置為晶片、掩模和其他扁平樣品提供全面的缺陷分類，對顆粒、汙染物和結構缺陷提供可靠的檢測和分類。Machine Control.SemVision G3通過高級軟件和用戶編程接口提供工具控制,從而實現自動吞吐量和高效利用資產。自動索引和缺陷排序。自動化的索引和缺陷分類功能能夠快速識別模式,能夠深入了解缺陷過程。這有助於在單次分析時提供卓越的故障取芯能力。與AMAT和第三方軟件集成。SemVision G3能夠與其他APPLIED MATERIALS和第三方軟件集成,從而實現經濟高效的數據分析和快速的產品驗證。Global Support.該模型附帶了一個全面的全球支持網絡,包括安裝、培訓和技術支持。這可幫助用戶最大化性能並最大程度地減少停機時間。最後,AMAT SemVision G3 FIB是一種高度先進的掩模和晶圓檢測設備,它提供卓越的成像和缺陷定位功能、全面的缺陷分類、自動索引和缺陷分類,並支持與其他AMAT/APPLIED MATERIALS和第三方軟件的集成。該系統還配備了卓越的全球支持網絡,可實現最佳性能和最小停機時間。