二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB #9287513 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB是一種用於解決晶圓級設計錯誤的掩模和晶圓檢測設備。該系統具有高分辨率成像和檢查功能,能夠檢測350 nm間距上小至2 nm的缺陷。該單元適用於工程過程控制和生產數據分析。在規格方面,AMAT SemVision G3 FIB利用Ultima FIB/SEM列和高級成像技術,如分辨率目標自動化軟件、光學近端探測和TEM/SEM功能,以實現最高的準確性、靈活性和吞吐量。它配備了最新的成像和分析工具,包括缺陷審查、區域嚴格性和成像保真度模塊。這臺機器配備了一個獨特的雙級自動化掃描和檢查軟件（ASIS）板，它允許幾個掃描環境的集成。此功能確保了生產速度和產量優化方面的最佳性能。此外,820 Integrex FE-SEM電動定心設備提高了定位精度、吞吐量和多功能性。APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB是一個通用平臺,因為它可以輕松集成其他第三方檢測產品。因此,您可以使用它來執行多個功能,如自動化對齊、可編程轉移、缺陷預處理和快速單映像對齊。至於樣本量，該工具最多可以加工4英寸晶圓。SemVision G3 FIB專為安全操作而設計,提供基於現場的安全選項,例如聯鎖、自動停止、汙染監控和自動報警,以便於晶圓處理的維護和管理。其符合人體工程學的設計使其方便易用。該資產配有觸摸屏面板和用戶友好的GUI,可幫助瀏覽各種交互式功能。總體而言，AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB是一種先進可靠的晶圓檢測任務解決方案。它提高了準確性、生產率和靈活性,適用於自動化過程控制和數據分析。