二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #293626936 待售
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已售出
ID: 293626936
優質的: 2007
Defect review system
Does not include Hard Disk Drive (HDD)
2007 vintage.
AMAT/APPLICED MATERIALS SemVision G3 Lite是為簡化生產和提高吞吐量而設計的生產線半導體掩模和晶圓檢測設備的頂部。通過結合高分辨率數字成像和高級數據分析,G3 Lite能夠快速識別半導體掩模和晶片上的缺陷和缺陷。G3 Lite的成像系統完全可定制,以達到最高質量標準。它利用了從10個×到13 500個×的各種放大倍數,以便進行更詳細和準確的檢查。全尺寸CCD光學陣列能夠在檢查區域捕獲高達6k x 6k分辨率的圖像,使設備能夠檢測極小的缺陷。計算機圖像處理和先進的圖像處理算法進一步提高了機器的功能。G3 Lite專為提高吞吐量和生產率而設計,具有可調節的掃描速度,使操作員能夠調整掃描速率以滿足其應用要求。該機同時支持100納米和300納米成像,使操作員能夠在不同的檢查和過程之間快速切換。此外,該工具還有一個自動化級,可以精確地移動、傾斜和旋轉晶圓生產的所有主要級別。G3 Lite提供了一套全面的分析工具,使操作員能夠以極高的精度測量和分析陣列、邊和尺寸。Auto-Focus和Auto-Tune技術有助於減少檢查時間,同時保持準確性,使資產能夠快速識別潛在缺陷。用戶友好的圖形界面確保操作員能夠快速學習如何使用模型。設備還包括一系列可靠的報告和數據輸出選項,包括繪圖儀、數碼機和激光打印機。通用的G3 Lite系統適用於廣泛的應用,從大批量生產到實驗室層面的研究。它兼具高性能和先進特性,是任何掩模或晶圓檢測操作的絕佳選擇。
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