二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #9287515 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite是一種面罩和晶圓檢測設備，旨在方便對高端微電子器件進行可靠高效的檢測。該系統利用高分辨率準粒子成像、光場光學和獨特的模式識別模塊等功能，提供卓越的缺陷檢測和報告能力。AMAT SemVision G3 Lite配備了先進的彩色LED照明，使該單元能夠準確測量照明和未照明樣品的圖樣差異，使用戶能夠檢查更廣泛的材料。它還具有閃爍的屏幕投影，顯示標本的150 nm分辨率圖像，為用戶提供詳細的圖像，以幫助檢測亞微米缺陷。機器的自動測量功能使用多種模式分析技術來檢測形狀、大小和灰度特征，使用戶能夠快速準確地測量每個特征的特征。獨特的自動測量功能還可用於識別可能的缺陷或模式變化，從而為用戶提供有關缺陷潛在原因的反饋。APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite還配備了高速成像模塊，為用戶提供2.5 Gigapixel/秒成像吞吐量。使用此成像模塊,用戶可以一次從多達10個樣本中快速獲取圖像,最小視場為150 nm。此外,模塊能夠在不到一秒的時間內成像整個晶片。該工具還為用戶提供各種分析工具，如掩模對準和晶體管成像，使用戶能夠準確識別和分類缺陷。借助其強大的分析功能,SemVision G3 Lite還為用戶提供了多種有用的數據,如關鍵形狀、特征大小和灰色級別信息。總體而言，AMAT/APPLICED MATERIALS SemVision G3 Lite是一種先進的掩模和晶圓檢測資產，具有廣泛的特性和功能，使其成為檢測高端微電子芯片和其他復雜設備的理想工具。AMAT SemVision G3 Lite具有高度先進的成像功能、強大的分析功能和快速的圖像采集速度,是檢查任何大小和復雜設備的強大而可靠的工具。