二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #9380470 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite是一種檢測設備，設計用於快速、準確地分析高端口罩和晶片上的缺陷。該系統采用一套創新的成像、計量和掩模檢查工具，能夠檢測和測量最微小的缺陷。該裝置采用多路復用器設計，可同時操作紅外和可見顯微鏡，以提高速度和精度提供出色的分辨率。它與AMAT SEMVision控制器配對，對成像參數進行精確控制，自動檢測缺陷。該機還包括一個DLA Group D掃描算法，用於快速、可重復的分析，以及與較舊的軟件平臺向後兼容。該工具的超高分辨率成像功能允許精確檢測表面缺陷和顆粒。它為評估任何現有或新出現的缺陷源奠定了可靠的基礎，使掩模制造商能夠快速識別問題的原因並相應地加以修復。此外,該資產還包括一套功能強大的掩碼檢查工具,包括模式識別、邊緣檢測和輪廓跟蹤,以確保最高精度。AMAT SemVision G3 Lite進一步融合了數字低分辨率SEM （DLA Group D）掃描、模式識別和地圖刪除技術。此組合提供了完整的缺陷圖片和晶圓表面的全面圖片,能夠識別、表征和定位缺陷。此外,該模型設計用於快速設置和實施,並具有直觀的軟件界面,使用戶能夠快速輕松地執行其任務。此外，該設備還可與網絡連接的晶圓計量系統相連接，以便快速、方便地進行分析。總體而言,APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite系統為用戶提供了一種分析、快速和可靠的方法來識別、分析和表征高端晶片和掩碼上的缺陷。通過使用先進的成像、計量和掩模檢查工具，該單元消除了猜測，提供了無與倫比的精確結果。