二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9072082 待售

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ID: 9072082
晶圓大小: 12"
優質的: 2005
Defect review system, 12" (2) Loadports with FOUP capable (TDK) RFID Type: Loadports carrier reader BROOKS Robot Light source: SE-Gun tip Resolution: 10 nm Optical microscope Automatic defect review Automatic defect classification Site inspection Automatic defect localization Beam tilt Operator console UPS EPDU FFU Tool cover Isolation block 2005 vintage.
AMAT AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3掩模和晶片檢查設備是一個自動化系統,旨在檢查掩模、標線和晶片並檢測錯誤和不合格。該單元提供快速晶片掃描能力,能夠有效檢測大型晶片上的缺陷。該機基於高速6.25兆像素CMOS相機,安裝在帶有配套硬件和軟件的專有檢查頭上。它還將高度精確的機動化級與精密加工零件集成到工具中,以便在成像和檢查過程中精確定位和移動掩模和晶片。該資產能夠檢測到尺寸不超過1微米的缺陷,並可以檢查直徑不超過14英寸的區域。它還能夠同時檢查多個晶片,並且可以檢測掩模或晶片中的表面缺陷和跟蹤錯誤。此外,APPLICED MATERIALS AMAT SemVision G3掩模和晶圓檢測模型還能夠識別不同類型的缺陷,包括空隙、斷線、缺失特征和錯位。該設備具有可編程的圖像生成和捕獲軟件,可用於定制圖像處理。這包括能夠調整檢查設置以優化應用程序的結果。該軟件還使用戶能夠分析獲得的數據並生成詳細的報告,這些報告可用於文檔、質量控制和流程改進。AMAT/APPLIED MATERIALS APPLEED MATERIALS SemVision G3 Mask&Wafer Inspection System旨在提供精確準確的檢測性能,同時考慮到不同制造工藝和應用的需求。它強大的設計和用戶友好的軟件使用戶能夠快速準確地檢查和檢測缺陷,從而實現高效可靠的高質量生產。
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