二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9261413 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3是一種掩模和晶圓檢測設備，設計用於幫助減少微電子元件生產中的誤差。該系統利用高分辨率數字成像技術和先進的模式識別軟件，快速準確地識別掩模、晶圓表面和其他結構上的缺陷。AMAT SemVision G3為用戶提供了多種優勢。最重要的優點之一是其強大高效的自動特征識別和檢測質量分析能力。這個單元可以檢測到小至0.03微米的表面瑕疵，使得它非常適合檢查口罩、晶圓和其他微電子元件。此外,該機器能夠以高效和自動化的方式執行多個測量,例如邊緣檢測和線性測試。APPLIED MATERIALS SemVision G3的用戶界面簡單直觀。顯示屏包括縮放和平移功能、選擇用於晶圓檢查的預設配置文件以及自動數據收集等幾個高級控制功能。使用該工具,用戶可以完全控制檢查過程,從而能夠快速檢查結果並相應進行必要的調整。SemVision G3還配備了一些附加功能，使其成為蒙版和晶圓檢測應用的一個有吸引力的選項。這些特征包括光學異構體成像，消除了不同通道間相聲的可能性，以及用於檢測和分類微電子元件中不同缺陷的多種缺陷檢測工具。此外,該資產還提供高級自動化功能,可在連續檢查運行期間增強性能和可重復性。總體而言，AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3是一種極其可靠和高效的掩模和晶圓檢驗模型。通過結合高分辨率數字成像、先進的模式識別軟件以及一系列額外的自動化功能，它允許用戶以高效、準確的方式檢查各種微電子元件。由於這些原因，AMAT SemVision G3是任何掩模和晶圓檢測要求的絕佳選擇。