二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9274013 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3是一種蒙版和晶片檢查設備，提供最高的光學性能和圖像質量，允許最精確地放置和對準蒙版和晶片。該系統可用於多種應用，包括缺陷檢測、叠加測量和3D輪廓測量。AMAT SemVision G3旨在為半導體行業提供卓越的成像和檢查能力。它使用先進的成像技術和自動化算法來提供準確的缺陷檢測、叠加測量和3D輪廓測量功能。該單元利用三個獨立的成像系統，這些系統結合起來，提供了無與倫比的性能水平。這些系統包括近可見成像機（NIS）、電子束書寫工具（EBS）以及晶圓和掩模檢查資產組合（WMIS）。NIS提供了一種光學分辨率來表征大視場上納米大小的特征。它還具有檢測和測量非常小的微小缺陷或結構的能力。NIS和EBS系統的組合使得臨界對準測量的精度盡可能高。WMIS是晶圓和掩碼的組合檢測模型，利用先進的成像技術和算法，提供精確的缺陷檢測和重叠測量能力。該設備利用二維（2D）視頻成像和3D掃描技術,用戶可以精確分析和測量晶圓和掩碼。APPLICED MATERIALS SemVision G3還具有一系列其他功能，如自動校準和操作、16位分辨率成像、嵌入式Metrology 3D激光共聚焦顯微鏡（LCM）和集成軟件控制的測量和分析系統。SemVision G3是快速、精確的掩模和晶圓檢測和表征的理想解決方案,使半導體專業人員能夠提供高質量的產品和服務。它具有廣泛的功能以及先進的成像和分析功能,是任何半導體應用的理想選擇。