二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9351468 待售

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3
ID: 9351468
晶圓大小: 12"
優質的: 2007
Defect review system, 12" 2007 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Mask and Wafer Inspection Equipment from AMAT is a full automated and integrated system for inspection of mask and wafer.它是任何全面服務的重要組成部分,生產光刻設施。該單元提供1面和2面的檢查,允許全掩模和晶圓檢查。它的雙面檢查功能有助於降低總體擁有成本,同時實現掩碼和晶圓數據的統一。AMAT SemVision G3使用光學和3D視覺分析對晶圓表面上的圖樣進行全面分析。它在高和低NA應用模式下提供集成的高性能、高分辨率和探測。該機的關鍵特性包括1010高精度級和直線電機驅動器、0.9 nm分辨率壓電掃描儀、1600 mm視場、810 nm FOV取景選項和背景消除掃描選項。該工具配有自動蒙版和晶圓對準器、高速控制器和高級檢查軟件包。APPLICED MATERIALS SemVision G3具有較低的誤報率,提供了一種測量和識別半導體器件缺陷的有效方法。它支持多種臨界缺陷類型,包括顆粒、背面顆粒、接觸孔、關線臨界尺寸和覆蓋層。該資產還包括一個專有例程庫,可用於自動檢測和修復缺陷。SemVision G3提供了可靠直觀的用戶體驗,使操作員能夠快速識別和修復口罩和晶片上的缺陷。它易於安裝、配置和操作,使工程師和操作員能夠快速了解如何使用模型。該設備設計用於要求最苛刻的半導體生產環境,確保高質量的結果並幫助提供高產性能。AMAT/APPLICED Materials SemVision G3 Mask和APPLICED MATERIALS的晶片檢驗系統是一種非常可靠、經濟高效的口罩和晶片檢驗解決方案。它提供了多種關鍵特性和優勢,使其成為半導體制造工藝的理想選擇。
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