二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9372771 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3是一種面罩和晶圓檢查設備，設計用於快速傳送缺陷檢測和校正。該系統結合了硬件、軟件和處理能力,以捕獲、分析和糾正精密設備掩碼圖像中的錯誤。AMAT SemVision G3的硬件包括幾個組件。基礎是一個最先進的成像單元,它驅動高分辨率、智能的CCD攝像機捕獲圖像,從而實現小至1微米特征的可視化和分析。這與一個重復的三級金字塔傳感機配有一個內置的線性編碼器，用於精確的自動聚焦。對象識別工具（ORS）使用一系列高級算法，以增強對比度和清晰度來增強捕獲的圖像。然後由圖像分析資產（IAS）處理和分析圖像。接下來，G3使用幾個軟件模塊進行數據處理和錯誤識別。這包括分割和分類（SCU）、邊緣檢測（EDT）和分區算法。這些功能有助於識別和檢測缺陷,這些缺陷的特征是各種測量,包括尺寸、形狀、位置和方向。最後,使用校正模型（CORR）將匯總結果與存儲的標準進行比較,以確保數據在其指定的公差範圍內。最後,APPLIED MATERIALS SemVision G3的模塊化體系結構支持各種強大的處理功能,以確保在各種生產過程中獲得準確一致的結果。其中有一個匹配的光刻模塊，產生IC晶片的高分辨率圖像，同時最小化掩蔽步驟產生的噪聲。它還提供不同組件之間的高速數據交換,以加速掩蔽和檢查過程。總體而言,SemVision G3是一個非常強大的用於掩模和晶圓檢查的工具。它結合了高級圖像捕獲、復雜的圖像處理和分析算法以及強大的數據管理功能,以最大程度地減少設備掩蔽過程中的錯誤。它肯定是實現一致和準確結果的寶貴資產。