二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G4 #293738252 待售

ID: 293738252
優質的: 2010
Defect review system 2010 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G4是一種用於半導體制造設施的掩模和晶圓檢測設備。它使用多種技術來檢查光掩碼和晶片,確保IC制造的圖像幹凈。AMAT SemVision G4具有一個壓力掃描儀,能夠檢查高達2.2英寸的晶片,分辨率高達3.0至4.5微米,是AMAT系列產品中最高的。這款掃描儀利用350毫米直線電動機實現高速掃描,旨在與氣體箱集成,用於特殊環境。該系統還通過支持多種掩模和晶片,以及允許使用高度一致性和準確性的各種材料,最大限度地提高投資回報率。該裝置還可用於檢查各種半導體和MEMS產品。應用材料SemVision G4還提供了檢測晶片的高精度解決方案。這包括高達7.5微米的高分辨率成像,具有先進傾斜校正的3D晶圓聚焦功能,以及檢測地下缺陷的能力。這臺機器還配備了一種新型的照明器,可用於檢測最優秀圖像中的微缺陷。總體而言,SemVision G4是需要頂級檢驗資產的半導體和MEMS產品制造商的理想工具。它提供高分辨率成像,支持多個掩模和晶片,並且可以檢測地下缺陷。它還提供先進的傾斜校正和改進的照明器,確保精確和準確的圖像沒有缺陷錯過。
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