二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G4 #9401994 待售
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AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G4是一種先進的高科技掩模和晶片檢測設備,旨在檢測和表征光掩模和晶片上的微缺陷。該檢測系統能夠檢測到6微米分辨率以下的缺陷，可用於各種半導體和微電子應用。G4利用置信度驅動模式匹配算法以及許多復雜的圖像增強技術來實現缺陷檢測。該設備旨在分析晶片和掩模的正面和背面圖像,從而能夠快速高效地檢測最小缺陷。它具有直觀的用戶界面,允許用戶快速輕松地配置計算機,以檢測正面和背面圖像中的缺陷並對其進行分類和評分。G4配備了Xeno光源和弧光燈，為檢測甚至最小的缺陷創造了最佳光源。它有兩個前沿的CCD相機，使用高分辨率的鏡頭來捕捉面具和晶片的圖像。利用強大的圖像分析算法，該工具能夠檢測和表征蒙版和晶片上的微觀缺陷。G4包含了一系列亞微米缺陷檢測算法，如DRC（Direct Registration of Characters），用於亞微米結構的高效匹配。它還具有像素級缺陷審查算法，允許用戶深入研究可疑缺陷並詳細查看它們。AMAT SemVision G4是半導體和微電子生產不可或缺的工具，提供了一種快速可靠的方法來檢測和表征光掩模和晶片上的缺陷。憑借先進的成像算法、強大的光源和直觀的用戶界面，G4為掩模和晶圓檢測系統設定了標準。
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