二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Semvision G5 + EDX #9145244 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS Semvision G5+EDX是一種為半導體制造而設計的掩模和晶圓檢測設備。該系統提供了一種可靠、高效的方法，確保制造產品中使用的口罩和晶片質量最高。該單元使用多種探測器和成像技術，快速準確地檢查掩模和晶片是否存在缺陷、失真和其他缺陷。AMAT Semvision G5+EDX由掩模檢查模塊、光學顯微鏡、電荷耦合器件（CCD）陣列、電子探測器和樣品支架組成。掩模檢查模塊使用高分辨率攝像頭和高功率光源來捕獲掩模的微觀圖像。光學顯微鏡用於目視檢查掩模和晶片是否有缺陷和缺陷，而CCD陣列則用於收集掩模的數字圖像。電子探測器用於捕獲和分析掩模和晶片中的納米級元素。樣品支架設計用於在檢查過程中牢固地固定口罩和晶片。APPLIED MATERIALS SEMVISION G5+EDX還利用了多種基於計算機的分析工具和軟件，旨在快速準確地評估蒙版和晶片。這包括自動缺陷檢查軟件，該軟件旨在檢測和識別口罩和晶片中的缺陷。還包括旨在檢查是否遵守既定國際標準的其他軟件工具。Semvision G5+EDX提供了速度、精度和經濟性的獨特組合,使其成為尋求提高其掩模和晶圓檢驗過程的準確性和效率的半導體制造廠的一個有吸引力的選擇。這臺機器能夠以高達每秒6000幀的速度捕獲高分辨率圖像，並且能夠檢測到小至0.15微米的缺陷。此外,該工具可輕松集成到現有生產線中,從而加快了上市速度。