二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #293622274 待售

ID: 293622274
Defect review system.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision是一種由AMAT開發的掩模和晶圓檢測設備。該系統以專利技術為基礎,提供高精度和插槽編程,方便快速運行。面罩和晶片檢測儀結合了光刻級紅外光學器件和雙級點光機,以各種模式提供準確的結果。自動檢測算法消除了環境變化,並允許工具以高精度監視模式。軟件允許用戶選擇感興趣的區域並查看基板上的可疑缺陷。與傳統的掩模和晶片檢查設備相比,這有助於減少人工檢查整個晶片所花費的時間,並提高準確性。此外,兩級點光設備可確保正反面罩上小缺陷的準確性,其他類型的檢查系統可能看不到這些缺陷。該模型的設計也考慮到了靈活性。可用於開展廣泛的檢查,包括圖像分析、模式識別、粒子檢測等等。用戶界面直觀而簡單,允許快速的作業設置和配置。此外,設備還包括一個帶有簡化作業設置的優化模板的檢查庫。這使用戶更容易自定義系統以滿足其特定需求。通過靈活的控制參數,如放大倍率、數值孔徑和視場,可以對設備進行廣泛的定制。該機器還配備了全自動功績圖形硬件,可在短短幾秒鐘內識別陣列的特征大小、信噪比和動態對齊方式。最後,該工具采用內部報告生成器,提供自動記錄保存和報告。簡而言之,AMAT SemVision資產是一種具有可定制性、靈活性和準確性的高級掩碼和晶圓檢測模型。該設備可實現快速輕松的作業設置,並具有高精度的結果和簡單直觀的用戶界面。由於其強大的功能集和高度可配置的性質,APPLIED MATERIALS SemVision系統非常適合用於口罩和晶片的生產、研究和開發。
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