二手 AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #9308059 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision Mask&Wafer Inspection Equipment是一種全自動的半導體計量工具,旨在可靠地檢測Mask和Wafer中的缺陷。該系統利用尼康和施耐德光學技術兩家制造商，允許用戶在適中和高放大倍率之間進行選擇。它還提供了光學反射率、邊緣粗糙度、徑向幾何畸變等多種測量類型，非常適合研究和生產應用。該單元有兩個主要模塊，一個機器控制器模塊和一個圖像捕獲模塊，每個模塊都有自己的一組功能。工具控制器模塊是資產的大腦，負責管理所有模型操作，從獲取圖像到分析數據。它由單元控制軟件、成像控制臺和半導體控制終端組成。此外,它還具有控制操作設置的控制面板和通過USB連接到設備的PC。圖像捕捉模塊包括三個主要組成部分：顯微鏡、顯微鏡適配器和照相機。顯微鏡用於提供放大和詳細成像，而適配器直接連接到相機，有助於確保圖像被系統精確捕獲和分析。顯微鏡既包括視場選擇，也包括光學參數選擇，包括分辨率、視場大小和景深。顯微鏡還提供多種成像模式，以適應各種應用，如亮場、暗場、極化等等。相機是一個高分辨率的數字成像單元，以高達4K的分辨率捕捉圖像。機器的圖像處理軟件使用戶能夠測量晶圓和掩模的各種特性。軟件可以檢測晶片和掩模上的缺陷，並測量其徑向距離和區域，以評估其準確性水平。此外,它還可用於測量光學特性,如劃痕、特定特征上的劃痕、特征平滑或偏差以及其他細節。該軟件還提供圖像處理和分析算法，用於自動缺陷檢測、特征提取以及各種其他用途。AMAT SemVision Mask&Wafer Inspection Tool是確保半導體制造工藝盡可能高質量的高效工具。它能夠準確檢測晶片和掩模的缺陷，測量晶片和掩模的各種特性，是研究和生產應用的理想選擇。