二手 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9293623 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 Mask和Wafer Inspection設備為缺陷識別和表征提供了業界領先的綜合解決方案。該系統利用先進的高功率紫外線激光檢測技術對光掩模和晶片進行高速檢測。AMAT UVision 4能夠檢測和表征5 μ m以下的缺陷,並能夠檢測群集缺陷,從而實現了最全面、最準確的缺陷識別。開發了APPLICED MATERIALS UVision 4來提供最高效可靠的晶圓和光掩模檢測。該設備采用高分辨率激光狹縫掃描和視場（FOV）,使用戶能夠快速準確地檢查5米以下最難檢測μ缺陷。此外，UVision 4的先進激光光柵處理允許無與倫比的靈敏度和均勻的覆蓋與不斷的圖像強化。AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4也提供了優異的缺陷表征能力。通過激光特異性檢測算法和強大的數字圖像處理技術相結合，能夠準確地表征晶圓和光掩模上的二維和三維缺陷。由於能夠區分缺陷的特征類型、打印密度和表面地形,因此該工具提供了無與倫比的表征精度。除了缺陷表征之外,AMAT UVision 4還提供了一個功能強大的軟件套件,旨在管理和顯示資產的數據。高級軟件功能（如「自動缺陷協調」、「缺陷群集」、「缺陷類型返回」、「自動自適應統計」和「批量地圖分割」）使用戶能夠快速分析檢查結果並確定潛在的質量問題來源。APPLICED MATERIALS UVision 4 Mask and Wafer Inspection模型是一種業界領先的解決方案,用於識別和表征5 μ m及更低的缺陷。利用高分辨率激光檢測和強大的數字圖像處理,UVision 4能夠準確檢測晶圓和光掩模上的二維和三維缺陷並對其進行表征。憑借識別缺陷類型、打印密度和表面地形的能力,用戶可以確保制造出質量最高的產品。該設備還得到強大的成像軟件的支持,該軟件旨在幫助用戶快速分析檢查結果並確定任何質量問題的來源。